투과 전자 현미경

일립 HT7700 투과전자현미경

투과 전자 현미경(transmission electron microscope; TEM)은 전자 빔을 시료에 통과시키고, 투과된 전자 빔을 감광판이나 CCD에 쪼여 상을 얻는 전자현미경의 일종이다. 전자가 시료를 지날 때 일부는 시료에 흡수되고 일부는 굴절·산란되어 진행하게 되므로 시료의 형태를 계산할 수 있는 것이다.

전자가 시료를 투과할 수 있어야 하기 때문에 시료의 두께가 절대적으로 중요하다. 보통 500 Å 정도의 두께가 요구되는데, 이를 위해 보통은 시료 절편을 갈아내어 원하는 두께의 시료를 얻는다.